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Isa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia.

Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates

PEZZOLI, FABIO;MARZEGALLI, ANNA;BERGAMASCHINI, ROBERTO;SALVALAGLIO, MARCO;MONTALENTI, FRANCESCO CIMBRO MATTIA;GRILLI, EMANUELE ENRICO;GUZZI, MARIO;MIGLIO, LEONIDA
2013
abstract + slide
Dislocation, Germanium, Silicon, Heteroepitaxy
English
E-MRS 2013 Fall Meeting
2013
16-set-2013
none
Isa, F., Pezzoli, F., Marzegalli, A., Bergamaschini, R., Salvalaglio, M., Falub, C., et al. (2013). Dislocation assessment and their elimination in high-quality Ge microcrystals integrated on deeply patterned Si (001) substrates. Intervento presentato a: E-MRS 2013 Fall Meeting, Warsaw, Polonia.
02 - Intervento a convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10281/51078
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